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X射线微区分析技术在贵金属样品原位测试中的应用

作者：刘敏;
关键词：微区分析;;WDXRFS;;定位测试
摘要：本文选用组合合金纪念币、青铜器殘片等,尝试在岛津XRF-1800光谱仪上作微区定性和定量测试,旨在探索出常规XRFS测试技术向微束、微区分析(MA-XRF)沿伸的方法,实验结果令人满意。
机构：安徽省地质实验研究所(国土资源部合肥矿产资源监督检测中心);
年期： 202120
中文刊名：世界有色金属
CN： 11-2472/TF
ISSN： 1002-5065
CI指数： 82.036